產品中心
PRODUCTS CNTER
相關文章
以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置
更新時間：2026-03-31
產品型號：
瀏覽量：1141
● 采用分光干涉法 ● 搭載高精度FFT膜厚解析系統（專zhuan利 第4834847號） ● 使用光學光纖，可靈活構筑測量系統 ● 可嵌入至各種制造設備。 ● 實時測量膜厚 ● 可對應遠程操作、多點測量 ● 采用壽命長、安全性高的白色LED光源
更新時間：2026-03-31產品型號：瀏覽量：850
PP-1000小角激光散射儀，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，簡稱SALS），可以對高分子材料和薄膜進行原位檢測，實時解析。與SAXS和SANS的裝置相比，檢測范圍更廣。利用偏光Hv散射測量可以進行光學各向異性的評價，解析結晶性薄膜的球晶半徑，偏光Vv散射測量可以進行聚合物混合的相關距離的分析。
更新時間：2026-03-31產品型號：瀏覽量：935
以最zui高機型MCPD-9800為首，一共有3種對應12波長領域的測量儀。 我們可以根據客戶的需求和用途提出最適shi合的方案。 不同評價方法對應不同設備
更新時間：2026-03-31產品型號：瀏覽量：1048
nanoSAQLA是一臺通過動態光散亂法（DLS法）測量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內的多檢體測定的新光學系統，實現了實驗室必需的輕量、小型化、標準1分鐘的高速測定。 另外，這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標準配備“5檢體連續測量”的新產品。
更新時間：2026-03-31產品型號：瀏覽量：736
●1個單元可輕松連續測量5個樣品。 ●實現了在沒有自動進樣器的情況下難以實現的多個樣品的連續測量，也可以通過改變每個樣品的條件進行測量。 ●標準測量時間為1分鐘的高速測量，通過自動調整從濃縮樣品到稀釋樣品的最佳測量位置，實現約1分鐘的高速測量。 ●配備簡易測量功能（一鍵開始測量）軟件，簡單易懂，無需任何復雜操作。 ●內置非浸入式電池塊，無需分裝，無污染，每個電池都是獨立的，無需擔心污染。
更新時間：2026-03-31產品型號：瀏覽量：733公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區疊橋路456弄創研智造C7區五樓
Copyright © 2026 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術支持：化工儀器網 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業文化 榮譽資質 聯系我們快速通道
產品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 RU120便攜式拉曼光譜儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統
當前位置：
產品分類