產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚液晶層間隙量測設(shè)備 RETS series
產(chǎn)品簡介
采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
● 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器
● 有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板
● 安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備
● 封入cell gap
● twist角 *
● rubbing角 *
● pretilt角［TN,IPS,FFS,MVA］ *
● 空cell gap *
● 相位差（復(fù)折射相位差）的波長分散 *
● 光學(xué)軸 *
● 橢圓率/方位角 *
● 三次元折射率/Rth/β *
● 分光光譜/色度*
● 液晶cell
- 透過、半透過型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感應(yīng)電）
- 反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）
● 光學(xué)材料
- 其他（相位差?橢圓?偏光膜、液晶材料）
| 型號 | RETS series |
|---|---|
| 樣品尺寸 | 20mm×20mm ～* |
| cell gap測量范圍 | 0.1μm ～數(shù)10μm |
| cell gap重復(fù)性 | ±0.005μm |
| 檢出器 | 多通道分光光度計 |
| 測量波長范圍 | 400nm ～ 800nm |
| 光學(xué)系 透過用偏光子unit | 偏光光學(xué)系 消光比 10-5內(nèi)置Gran-tomson prism（方解石） 自動旋轉(zhuǎn)（角度精度0.1°）、自動裝卸機構(gòu) |
| 測量口徑 | φ2, φ5, φ10 (mm) |
| 光軸傾斜機構(gòu) | -20 ～ 45°、-45 ～ 45°等 |
相位差與液晶層間隙值
液晶面內(nèi)分布圖
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造C7區(qū)五樓
Copyright © 2026 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 RU120便攜式拉曼光譜儀 半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)
上一個：
返回列表