產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚高速相位差測量裝置 RE-200
產(chǎn)品簡介
● 可測從0nm開始的低（殘留）相位差● 光軸檢出同時(shí)可高速測量相位差(Re.)（相當(dāng)于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理）● 無驅(qū)動(dòng)部，重復(fù)再現(xiàn)性高● 設(shè)置的測量項(xiàng)目少，測量簡單● 測量波長除了550nm以外，還有各種波長● Rth測量、全quan方位角測量（需要option的自動(dòng)旋轉(zhuǎn)傾斜治具● 通過與拉伸試驗(yàn)機(jī)組合，可同時(shí)評(píng)價(jià)膜的偏光特性和光弾性(本系統(tǒng)屬特注。）
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
● 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
● 主軸方位角（θ[deg.]）
● 橢圓率（ε）?方位角（γ）
● 三次元折射率（NxNyNz）
● 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
● 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料（玻璃有變形，歪曲等）
● 什么是RE-200
● RE-200是光子結(jié)晶素子（偏光素子）、CCD相機(jī)構(gòu)成的偏光計(jì)測模塊和透過的偏光光學(xué)系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機(jī)1次快門獲取偏光強(qiáng)度模式，沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機(jī)構(gòu)，系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造，長時(shí)間使用也能維持穩(wěn)定的性能。
執(zhí)行擬合/傅立葉變換以計(jì)算橢圓度 ε 和方位角 γ。
| 型號(hào) | RE series |
|---|---|
| 樣品尺寸 | 最小10×10mm ～最大100×100mm |
| 測量波長 | 550nm （標(biāo)準(zhǔn)仕樣）※1 |
| 相位差測量范圍 | 約0nm ～約1μm |
| 軸檢出重復(fù)精度 | 0.05°（at 3σ） ※2 |
| 檢出器 | 偏光計(jì)測模塊 |
| 測量光斑直徑 | 2.2mm×2.2mm |
| 光源 | 100W 鹵素?zé)艋?LED光源 |
| 本體?重量 | 300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、約20kg |
Option
● Rth測量、全quan方位角測量※治具本體（旋轉(zhuǎn)：180°, 傾斜：±50°）
● 動(dòng)旋轉(zhuǎn)傾斜治具
視角改善膜A
視角改善膜B
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄?jiǎng)?chuàng)研智造C7區(qū)五樓
Copyright © 2026 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號(hào)：滬ICP備19020138號(hào)-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽(yù)資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 RU120便攜式拉曼光譜儀 半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)
上一個(gè)：
返回列表