汞探針測(cè)試

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
LEI Model2017B，通過(guò)汞探針接觸方法，對(duì)各類(lèi)半導(dǎo)體材料的載流子濃度分布進(jìn)行測(cè)試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。

Name: 汞探針測(cè)試LEI Model2017B
Brand: 波銘科儀
Availability: InStock

產(chǎn)品型號(hào)：LEI Model2017B

更新時(shí)間：2026-03-31

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪(fǎng)問(wèn)量：1282

產(chǎn)品咨詢(xún) 18117546256

產(chǎn)品分類(lèi)

PRODUCT CLASSIFICATION

半導(dǎo)體材料測(cè)試

體微缺陷測(cè)試霍爾電阻遷移率光伏光致發(fā)光深能級(jí)瞬態(tài)譜測(cè)試橢偏拉曼AFM 半導(dǎo)體多功能測(cè)試 CV測(cè)試系統(tǒng)集成測(cè)試儀器租賃

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Capability:

可提供多個(gè)肖特基結(jié)構(gòu)
特殊設(shè)計(jì)的肖特基接觸，使串聯(lián)電阻最小。
精確的真空控制

上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶(hù)遍布全國(guó)。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。

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