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LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對各類半導體材料的載流子濃度分布進行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。
更新時間：2026-03-31
產品型號：LEI Model2017B
瀏覽量：1282
汞CV測試系統，用于對外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測試; MCV-530L可測最大200mm的樣品。
更新時間：2026-03-31產品型號：瀏覽量：1529
CV-1500，用于測試界面和介電層的科研平臺，基于SDI Corona-Kelvin技術，可以進行非接觸C-V/I-V測試。
更新時間：2026-03-31產品型號：瀏覽量：1631公司郵箱： qgao@buybm.com
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